光線集光とコリメートの特性を持ち、照明光学系から結像光学系、高精度から汎用精度（リーズナブル）まで幅広い用途に使用できます。一般ガラスから結晶体材料まで高速研磨方式により、高品質の安定供給を実現しました。芯取加工においては、Ｚ値の小さい形状にも対応可能です。面精度計測では、レーザー干渉計を用いて２球面計測法によりＴＳ原器精度以上の計測保証を実現します。
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高精度 |
標準精度 |
汎用精度 |
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サイズ |
φ0.5 – φ300mm |
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材質 |
一般光学ガラス、合成石英、低熱膨張ガラス、Si、CaF₂ |
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曲率 |
＜ ±1Fr |
＜ ±5Fr |
＜ ±10Fr |
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面精度 |
＜ λ/10 |
＜ λ/2 |
＜ 2λ |
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表面粗さ |
＜ RMS 0.3nm |
＜ RMS 1nm |
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直径公差（※1） |
0 / -0.01mm |
0 / -0.05mm |
0 / -0.1mm |
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肉厚 |
±0.01mm |
±0.1mm |
±0.2mm |
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偏芯 |
＜ 30秒 |
＜ 3分 |
＜ 5分 |
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外観精度(S/D) |
ISO10110-7／MIL-0-13830に対応可能 |
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アプリケーション |
UV光学系 半導体 |
可視光学系 結像 |
赤外光学系 センサー |
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その他 |
オリフラ、外周段付け、穴開け、軸外し、同軸円メニス（シェル）形状 |
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